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半导体集成电路(失效分析)中多头探针测试检测

  • 样品名称:半导体集成电路(失效分析)

  • 检测项目:多头探针测试

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003 3.2.11

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路(失效分析) 多头探针测试 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003 3.2.11

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