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半导体集成电路(失效分析)中多头探针测试检测

  • 样品名称:半导体集成电路(失效分析)

  • 检测项目:多头探针测试

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GJB3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路(失效分析) 多头探针测试 GJB3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法

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