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半导体集成电路(失效分析)中红外扫描热像检测检测

  • 样品名称:半导体集成电路(失效分析)

  • 检测项目:红外扫描热像检测

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 方法5.3.9

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路(失效分析) 红外扫描热像检测 半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 方法5.3.9

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