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电子元器件中擦写耐久性和数据保持试验检测

  • 样品名称:电子元器件

  • 检测项目:擦写耐久性和数据保持试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:AEC-Q100-005-REV-D1-2012 非易失性存储器程序/擦除持久性,数据保留,和操作寿命测试

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 电子元器件 擦写耐久性和数据保持试验 AEC-Q100-005-REV-D1-2012 非易失性存储器程序/擦除持久性,数据保留,和操作寿命测试

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