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多芯片模块中NVM擦写次数、数据保持和工作寿命检测

  • 样品名称:多芯片模块

  • 检测项目:NVM擦写次数、数据保持和工作寿命

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:车用多芯片模块可靠性测试 AEC-Q104-Rev:2017 表1 测试组 B3

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 多芯片模块 NVM擦写次数、数据保持和工作寿命 车用多芯片模块可靠性测试 AEC-Q104-Rev:2017 表1 测试组 B3

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