国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：电子元器件
检测项目：芯片辐射抗扰度
认可资质：其它
检测标准：IEC62132-2:2010 集成电路-电磁抗扰度的测量-第2部分:辐射抗扰度的测量-TEM小室和宽带TEM小室法
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 电子元器件 芯片辐射抗扰度 IEC62132-2:2010 集成电路-电磁抗扰度的测量-第2部分:辐射抗扰度的测量-TEM小室和宽带TEM小室法
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