国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体集成电路（失效分析）
检测项目：X射线照相
认可资质：其它
检测标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体集成电路（失效分析） X射线照相 GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
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