国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体集成电路（失效分析）
检测项目：X射线照相
认可资质：其它
检测标准：GJB3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体集成电路（失效分析） X射线照相 GJB3233-1998 半导体集成电路失效分析程序和方法
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