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微电子材料中碳化硅单晶片微管密度检测

  • 样品名称:微电子材料

  • 检测项目:碳化硅单晶片微管密度

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GB/T30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 微电子材料 碳化硅单晶片微管密度 GB/T30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法

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