国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：微电子材料
检测项目：晶片弯曲度
认可资质：其它
检测标准：GB/T6619-2009 硅片弯曲度测试方法
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 微电子材料 晶片弯曲度 GB/T6619-2009 硅片弯曲度测试方法
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