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半导体集成电路模拟开关中输入低电平电流IIL检测

  • 样品名称:半导体集成电路模拟开关

  • 检测项目:输入低电平电流IIL

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 5.10

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路模拟开关 输入低电平电流IIL 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 5.10

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