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密封半导体集成电路中内部目检检测

  • 样品名称:密封半导体集成电路

  • 检测项目:内部目检

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101第2.7条

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 密封半导体集成电路 内部目检 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101第2.7条

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