国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：密封半导体集成电路
检测项目：内部目检
认可资质：其它
检测标准：专用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.7
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 密封半导体集成电路 内部目检 专用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.7
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