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半导体器件中稳态温度湿度偏置寿命检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:稳态温度湿度偏置寿命

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第 5 部分:稳态温度湿度偏置寿命试验 IEC 60749-5:2017

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 稳态温度湿度偏置寿命 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第 5 部分:稳态温度湿度偏置寿命试验 IEC 60749-5:2017

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