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半导体集成电路MOS随机存储器中输入高电平电流IIH检测

  • 样品名称:半导体集成电路MOS随机存储器

  • 检测项目:输入高电平电流IIH

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇2节2 方法38

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体集成电路MOS随机存储器 输入高电平电流IIH 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇2节2 方法38

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