• 国家电子电器产品检测中心

  • 刘工

  • 010-68215798

  • 第三方商业检测机构

我要咨询

嘉峪客服中心:400-818-0021

半导体器件中温度、偏置、寿命试验检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:温度、偏置、寿命试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 温度、偏置、寿命试验 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1

一键咨询