样品名称：半导体器件

检测项目：温度、偏置、寿命试验

认可资质：其它

检测标准：半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1

服务地点：全国

适用范围：电子电气

标签： 半导体器件 温度、偏置、寿命试验 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1