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半导体器件中温度、偏置、寿命试验检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:温度、偏置、寿命试验

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 分立器件 第8部分: 场效应晶体管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.1

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 温度、偏置、寿命试验 半导体器件 分立器件 第8部分: 场效应晶体管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.1

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