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半导体器件中高温寿命(非工作)检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:高温寿命(非工作)

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体分立器件试验方法标准方法 MIL-STD-750E:2006 METHOD 1031.5

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 高温寿命(非工作) 半导体分立器件试验方法标准方法 MIL-STD-750E:2006 METHOD 1031.5

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