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半导体可控硅中通态斜率电阻Rt检测

  • 样品名称:半导体可控硅

  • 检测项目:通态斜率电阻Rt

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 第 第6部分 晶闸管 GB/T15291-2015 7.4.3

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体可控硅 通态斜率电阻Rt 半导体器件 第 第6部分 晶闸管 GB/T15291-2015 7.4.3

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