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半导体器件中标志的耐久性检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:标志的耐久性

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T4937.1-2006 IEC60749-1:2002 4.2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 标志的耐久性 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则 GB/T4937.1-2006 IEC60749-1:2002 4.2

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