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半导体器件中漏极电流(A、B和C型)(ID)-漏源(直流)电压VDS检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:漏极电流(A、B和C型)(ID)-漏源(直流)电压VDS

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应管 GB/T 4586-1994/IEC 747-8- 1984 IV.3

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 漏极电流(A、B和C型)(ID)-漏源(直流)电压VDS 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应管 GB/T 4586-1994/IEC 747-8- 1984 IV.3

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