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半导体器件中漏源/集射间反向击穿电压检测

  • 样品名称:半导体器件

  • 检测项目:漏源/集射间反向击穿电压

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3407

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体器件 漏源/集射间反向击穿电压 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3407

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