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半导体设备保护用熔断器中I²t特性和过电流选择性验证检测

  • 样品名称:半导体设备保护用熔断器

  • 检测项目:I²t特性和过电流选择性验证

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.7

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体设备保护用熔断器 I²t特性和过电流选择性验证 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求 GB/T13539.4-2016 IEC 60269-4:2012 8.7

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