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半导体设备保护用熔断体中I2t特性和过电流选择性验证检测

  • 样品名称:半导体设备保护用熔断体

  • 检测项目:I2t特性和过电流选择性验证

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GB/T13539.4-20168.7 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 半导体设备保护用熔断体 I2t特性和过电流选择性验证 GB/T13539.4-20168.7 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

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