| 电子元器件 |
内部检查 |
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB4027A-2006 |
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内部检查 |
《 半导体分立器件试验方法》
GJB 128A-1997 |
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内部检查 |
《多层瓷介电容器及其类似元器件剖面制备和检验方法》
GJB4152-2001 |
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扫描电子显微镜(SEM)检查 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
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| 电子元器件 |
扫描电子显微镜(SEM)检查 |
《半导体分立器件失效分析方法与程序》
GJB3157-1998 |
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| 电子元器件 |
扫描电子显微镜(SEM)检查 |
《半导体集成电路失效分析程序和方法》
GJB3233-1998 |
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| 电子元器件 |
扫描电子显微镜(SEM)检查 |
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》
GJB4027A-2006 |
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扫描电子显微镜(SEM)检查 |
《 半导体分立器件试验方法》
GJB 128A-1997 |
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元素分析 |
《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》
GB/T 17359-1998 |
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元素分析 |
《半导体分立器件失效分析方法与程序》GJB3157-1998 |
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