| 电子元器件 |
声学扫描显微镜检查 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
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| 电子元器件 |
声学扫描显微镜检查 |
《军用电子元器件破坏物理分析方法》GJB4027A-2006 |
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| 电子元器件 |
X射线检查 |
《军用电子元器件破坏物理分析方法》GJB4027A-2006 |
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X射线检查 |
《微电子器件试验方法和程序》
GJB548B-2005 |
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X射线检查 |
《半导体分立器件试验方法》
GJB128A-1997 |
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| 电子元器件 |
X射线检查 |
《电子及电气元件试验方法》
GJB360B-2009 |
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| 电子元器件 |
X射线CT检测 |
《工业射线层析成象（CT）检测》
GJB 5312-2004 |
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| 印制线路板 |
外观特征 |
《军用电子设备印刷线路板验收判据》GJB4896-2003 |
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| 印制线路板 |
内部观测特征 |
《军用电子设备印刷线路板验收判据》GJB4896-2003 |
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| 数字集成电路 |
输入高电平电压VIH |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2000 |
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