| 数字集成电路 |
输出低电平电流IOL |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2011 |
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| 数字集成电路 |
输出高阻态时高电平电流IOZH |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2012 |
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| 数字集成电路 |
输出高阻态时低电平电流IOZL |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2013 |
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| 数字集成电路 |
电源电流Icc |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2014 |
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| 数字集成电路 |
输出短路电流Ios |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2015 |
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| 模拟集成电路 |
失调电流Ios |
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
GB/T6798-1996
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
GB3442-1986 |
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| 模拟集成电路 |
正输入电流Ib+ |
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
GB/T6798-1996
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
GB3442-1987 |
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| 模拟集成电路 |
负输入电流Ib- |
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
GB/T6798-1996
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
GB3442-1988 |
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| 模拟集成电路 |
偏置电流Ibias |
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
GB/T6798-1996
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
GB3442-1989 |
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| 模拟集成电路 |
失调电压Vos |
《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
GB/T6798-1996
《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》
GB3442-1990 |
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