数字集成电路 |
输入低电平电压VIL |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2001 |
咨询
|
数字集成电路 |
输入钳位电压VIK |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2002 |
咨询
|
数字集成电路 |
输入正向阈值电压VIT+ |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2003 |
咨询
|
数字集成电路 |
输入负向阈值电压VIT |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2004 |
咨询
|
数字集成电路 |
滞后电压ΔVT |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2005 |
咨询
|
数字集成电路 |
输出高电平电压VOH |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2006 |
咨询
|
数字集成电路 |
输出低电平电压VOL |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2007 |
咨询
|
数字集成电路 |
输入高电平电流IIH |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2008 |
咨询
|
数字集成电路 |
输入低电平电流IIL |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2009 |
咨询
|
数字集成电路 |
输出高电平电流IOH |
《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
SJ/T10741-2010 |
咨询
|