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检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:河南省郑州市
检测项:耐压 检测样品:电线电缆 标准:EIA-364-20D-2008 电连接器耐电压试验程序
检测项:耐久 检测样品:电线电缆 及组装件 标准:只测交流5kV以下
检测项:低阶接触阻抗 检测样品:电线电缆 及组装件 标准:只测交流5kV以下
机构所在地:江苏省昆山市