莫仕连接器（成都）有限公司产品检测中心

检测项：高温暴露试验 检测样品：电连接器 标准：连接器、插座带电负荷或不带电负荷的温度寿命试验程序 ANS/EIA364-17B 2001

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

施耐德电气(中国)有限公司上海分公司电力实验室

检测项：寿命试验 检测样品：低压开关设备和控制设备 标准：低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 GB 14048.1-2006 IEC 60947-1:2007+A1:2010

检测项：寿命试验 检测样品：低压开关设备和控制设备 标准：低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 GB 14048.1-2006 IEC 60947-1:2007 +A1:2010

检测项：机械寿命 检测样品：电气附件 家用及类似场所用过电流保护断路器 标准：电气附件 家用及类似场所用过电流保护断路器 第1部分：用于交流的断路器 GB 10963.1-2005 IEC 60898-1:2002 (A1:2002+A2:2003)

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

莱茵技术监护（深圳）有限公司

检测项：循环寿命 检测样品：蜂窝电话用锂离子电池 标准：GB/T 18287-2000 蜂窝电话用锂离子电池总规范

检测项：循环寿命 检测样品：蜂窝电话用镉镍电池 标准：GB/T 18289-2000 蜂窝电话用镉镍电池总规范

检测项：循环寿命 检测样品：一次和二次锂电池 标准：IEC 62281:2012 一次和二次锂电池的安全运输

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中航光电科技股份有限公司试验检测中心

检测项：机械寿命 检测样品：电连接器 标准：GJB2889-1997 XC系列高可靠小圆形线簧孔电连接器规范/4.6.14

检测项：机械寿命 检测样品：电连接器 标准：MIL-DTL-38999L 耐环境可拆卸压接和气密封锡焊接触件高密度快速分离（卡口、螺纹和推拉连接）小圆形电连接器通用规范 /4.5.8

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

辽宁高压电器产品质量检测有限公司

检测项：操作和机械寿命 检测样品：高压交流隔离开关和接地开关及其元件 标准：电气化铁道用高压交流隔离开关和接地开关 TB/T 3150-2007

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

深圳中认通测检验技术有限公司

检测项：循环寿命 检测样品：用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池 标准：用于便携电子设备的锂离子二次电芯或电池-安全测试 JIS C 8714:2007

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

河南省锅炉压力容器安全检测研究院

检测项：全项目 检测样品：蝶阀 标准：GB/T 12238-2008《法兰和对夹连接弹性密封蝶阀》 JB/T 8527-1997《金属密封蝶阀》 API 609-2009《双法兰、凸耳对夹式和对夹式蝶阀》 JB/T 8863-2004《蝶阀 静压寿命试验规程》

检测项：部分项目 检测样品：旋塞阀 标准：GB/T 12240-2008《铁制旋塞阀》 GB/T 22130-2008《钢制旋塞阀》 API 599-2013《法兰、螺纹、焊接的钢制旋塞阀》 JB/T 8860-2004《旋塞阀 静压寿命试验规程》

检测项：全项目 检测样品：截止阀 标准：GB/T 12233-2006《通用阀门 铁制截止阀和升降式止回阀》 GB/T 12235-2007+AMD.1《石油、石化及相关工业用钢制截止阀和升降式止回阀》 JB/T 7747-2010《针形截止阀》 JB/T 8859-2004《截止阀 静压寿命试

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

深圳先进储能材料国家工程研究中心有限公司检测中心

检测项：循环寿命 检测样品：镉镍蓄电池 标准：蜂窝电话用镉镍电池总规范 GB/T 18289-2000

检测项：循环寿命 检测样品：金属氢化物镍蓄电池 标准：蜂窝电话用金属氢化物镍电池总规范 GB/T 18288-2000

检测项：循环寿命 检测样品：锂离子电池 标准：蜂窝电话用锂离子电池总规范 GB/T 18287-2000

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳普瑞赛思检测技术有限公司

检测项：循环寿命 检测样品：笔记本电脑用可充电电池 标准：IEEE关于笔记本电脑用可充电电池的标准 IEEE Std 1625-2008

检测项：循环寿命 检测样品：电动汽车用锂离子蓄电池模块 标准：电动汽车用锂离子蓄电池 QC/T 743-2006

检测项：循环寿命 检测样品：移动电话用可充电电池 标准：IEEE关于移动电话用可充电电池标准 IEEE Std 1725-2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法1032高温寿命(非工作) GJB128A-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>