武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

检测项：光纤特性 检测样品：光电综合引入光缆 标准：GB/T 13993.2-2002 通信光缆系列第2部分:核心网用室外光缆; YD/T2159-2010接入网用光电混合缆

检测项：光电性能 检测样品：密集波分复用环境下光纤配线架 标准：中国电信《密集波分复用环境下光纤配线架技术条件》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

上海宝钢化工有限公司宝山分公司化验室

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析 标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

萧山区质量计量监测中心

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、Pb、S、Sb、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析 标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析 标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：线性误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：电源电压灵敏度 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：动态电阻 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003半导体器件分立器件第5部分光电子器件

检测项：反向漏过电流 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003半导体器件分立器件第5部分光电子器件

检测项：正向压降 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003半导体器件分立器件第5部分光电子器件

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

通标标准技术服务（天津）有限公司

检测项：不锈钢光电光源光谱分析(碳、硫、磷、锰、硅、镍、铬、钛、钒、铌、钼、铜含量) 检测样品：金属及合金 标准：不锈钢的光电光源光谱分析方法 GB/T 11170-2008

检测项：Mn 检测样品：金属及合金 标准：铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007

检测项：Mn 检测样品：金属及合金 标准：铝及铝合金的光电发射光谱分析方法 JIS H 1305－2005

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：漏－源通态电阻rDS(ON) 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

检测项：最大反向输入直流电压（VR） 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

检测项：基极开路时的最大集电极－发射极电压（VCEO） 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

新疆维吾尔自治区测绘产品质量监督检验站

检测项：数据质量（数学精度） 检测样品：大地测量 (光电测距成果) 标准：1、《测绘成果检查与验收》GB/T24356-2009 2、《中、短程光电测距规范》GB/T16818-2008

机构所在地：新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市 更多相关信息>>

珠海天威飞马打印耗材有限公司检测中心

检测项：光电性能 检测样品：激光打印机负电性有机光导鼓 标准：《静电复印硒鼓 光电性能测量方法》JB/T5531-2007

检测项：光电性能 检测样品：激光打印机负电性有机光导鼓 标准：《静电复印硒鼓 光电性能测量方法》 JB/T5531-2007 《激光打印机负电

机构所在地：广东省珠海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 第5.1条 第5.6.2条

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 第5.1条 第5.6.2条

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 第5.1条 第5.6.2条

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>