您当前的位置:首页 > 加电温度循环试验
温度冲击试验简介 热冲击试验(Thermal Shock Testing)常被称作温度冲击试验(Temperature Shock Testing)或者温度循环(Temperature Cycling)、高低温冷热冲击试验。温度冲击按照GJB 150.5A-2009 3.1的说法,是装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。 温度冲击...查看详情>>
上面3种试验,1、2以空气作为介质,第3种以液体(水或其它液体)作为介质。1、2的转换时间较长,3的转换时间较短。
收起百科↑ 最近更新:2017年07月05日
检测项:温度循环 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:温度循环 检测样品: 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1051中试验A、B、G GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107中试验条件A
检测项:可靠性试验 检测样品:电工电子产品 标准:GB/T2423.34-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
机构所在地:湖北省宜昌市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:广东省深圳市