厚度公差检测实验

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。镀层厚度检测方法镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>

厚度

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镀层/涂层厚度简介
厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。

镀层厚度检测方法
镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。
镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等;
镀层厚度破坏检测方法包括溶解法、液流法、点滴法、库仑法、金相显微镜法、轮廓仪法、干涉显微镜法等。
这些测量方法都有各自的特点和局限性，很准相互取代。但磁性法应用最广

镀层厚度相关标准
GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
GB/T 4893.5-2013 家具表面漆膜理化性能试验第5部分：厚度测定法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法
GB/T 11374-2012 热喷涂涂层厚度的无损测量方法
GB/T 28122-2011 液晶显示器（LCD）用聚乙烯醇（PVA）膜厚度测定方法
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 25451-2010 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 25276-2010 液晶显示器（LCD）用三醋酸纤维素酯（TAC）膜厚度测定方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 24328.2-2009 卫生纸及其制品第2部分：厚度、层积厚度和表观密度的测定
GB/T 13761.1-2009 土工合成材料规定压力下厚度的测定第1部分：单层产品厚度的测定方法
GB/T 24218.2-2009 纺织品非织造布试验方法第2部分：厚度的测定
GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法
GB/T 3690-2009 织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法
GB/T 13960.4-2009 可移式电动工具的安全第二部分：平刨和厚度刨的专用要求
GB/T 23285-2009 缩微摄影技术开窗卡增厚区厚度的测量方法
GB/T 22889-2008 皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定
GB/T 22638.1-2008 铝箔试验方法第1部分：厚度的测定重量法
GB/T 2951.11-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第11部分：通用试验方法厚度和外形尺寸测量机械性能试验
GB/T 13452.2-2008 色漆和清漆漆膜厚度的测定
GB/T 328.4-2007 建筑防水卷材试验方法第4部分：沥青防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 328.5-2007 建筑防水卷材试验方法第5部分：高分子防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
GB/T 16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 20018-2005 金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量 β射线背散射法
GB/T 11378-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法
GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定
GB/T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则
GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 17598-1998 土工布多层产品中单层厚度的测定
GB/T 3820-1997 纺织品和纺织制品厚度的测定
GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法电阻法
GB/T 13744-1992 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量

检测项目

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检测项：部分项目检测样品：固定烹调灶具,炉架,烤炉标准：家用和类似电器的安全第 22 部分: 固定烹调灶具,炉架,烤炉和类似器具的特殊要求 GB 4706.22－2008 家用和类似电器-安全-第2-6部分:固定烹调灶具,炉架,烤炉和类似器具的特殊要求IEC 60335-2-6:2008 EN 6033

检测项：部分项目检测样品：固定烹调灶具,炉架,烤炉标准：《家用和类似用途电器-安全-第2-6部分: 固定烹调灶具,炉架,烤炉的特殊要求》 AS/NZS 60335.2.6:2008

检测项：部分项目检测样品：烤面包器标准：家用和类似用途电器的安全第 14 部分:格栅,烤面包器和类似便携式烹饪器具 GB 4706.14-2008 家用和类似用途电器-安全-第2-9部分: 格栅,烤面包器和类似便携式烹饪器具IEC 60335-2-9:2008 EN 60335-2-9:200

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检测项：电气间隙, 爬电距离和绝缘厚度的测量检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备的安全第1部分通用要求 GB 4943.1-2011；IEC 60950-1:2005 +A1:2009; EN 60950

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检测项：护套最小厚度检测样品：蝶形引入光缆标准：接入网用蝶形引入光缆 YD/T 1997-2009 光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序-光纤几何参数 GB/T 15972.20-2008 光纤试验方法规范第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序-涂覆层几何参数 GB/T 159

检测项：内衬套、护套和外套的厚度检测样品：接入网用中心管式光纤带光缆标准：接入网用光纤带光缆第2部分：中心管式 YD/T 981.2-2009 光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序-光纤几何参数 GB/T 15972.20-2008 光纤试验方法规范第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序-涂覆层几何参

检测项：内衬套、护套和外套的厚度检测样品：接入网用松套层绞式光纤带光缆标准：接入网用光纤带光缆第2部分：中心管式 YD/T 981.2-2009 光纤试验方法规范第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序-光纤几何参数 GB/T 15972.20-2008 光纤试验方法规范第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序-涂覆层几何参

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检测项：耐热和耐燃检测样品：家用和类似用途电器的安全标准：GB 4706.9-2008 IEC 60335-2-8:2002+A1:2005+ A2:2008 EN 60335-2-8：2003+A1:2005+A2:2008 AS/NZS 60335.2.8:2004+A1:2006+A2:2009

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宝钜（中国）儿童用品有限公司测试实验中心

检测项：机械和物理性能检测样品：玩具和儿童用品标准：A5.2小零件测试 A5.3某些特定玩具的形状和尺寸 A5.6学前玩偶测试 A5.7玩具部分或部件的可触及性 A5.8锐利边缘测试 A5.9锐利简端测试 A5.10塑料薄膜厚度测试 A5.11绳索测试 A5.12稳定性及超载测试 A5.22折叠机构及滑动机

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宁波华祥技术服务有限公司

检测项：内部线检测样品：家用和类似用途电器标准：家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 GB 4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002 +A1:2004+A11:2004 +A2:2006+A12:2006 +A13:2008+A14:

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洛阳轴承研究所检验实验室

检测项：公差检测样品：滚动轴承标准：GB/T 307.1-2005 滚动轴承向心轴承公差

检测项：公差检测样品：滚动轴承标准：GB/T 307.4-2002 滚动轴承推力轴承公差

检测项：公差检测样品：滚动轴承标准：GB/T 5801-2006 滚动轴承 48、49和69尺寸系列滚针轴承外形尺寸和公差

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郑州磨料磨具磨削研究所有限公司磨料磨具实验室

检测项：＊外观、尺寸和形位公差检测样品：普通磨具标准：普通磨具外观、尺寸和形位公差试验方法 JB/T7992-2004

检测项：＊外观、尺寸和形位公差检测样品：普通磨具标准：普通磨具外观、尺寸和形位公差试验方法 JB/T7992-2004

检测项：＊全部参数检测样品：超硬磨具标准：*超硬磨具技术条件 JB/T7425-2012 超硬磨料制品金刚石或立方氮化硼砂轮和磨头极限偏差和圆跳动公差

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郑州机械研究所齿轮实验室

检测项：形状和位置公差检测样品：标准：GB/T1958-2004 产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定

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杭州轴承试验研究中心有限公司检测实验室

检测项：旋转精度检测样品：滚动轴承标准：滚动轴承公差第4部分：推力轴承公差 GB/T 307.4-2012

检测项：表面粗糙度检测样品：滚动轴承标准：滚动轴承零件调心滚子轴承套圈圆度公差CSBTS TC98.34-1997

检测项：表面粗糙度检测样品：滚动轴承标准：滚动轴承零件圆柱滚子轴承套圈滚道圆度公差CSBTS TC98.36-1997

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