发射极与第一基极间反向电流Ieo 检测实验

棘突植入物

简介

棘突植入物

简介

棘突植入物产品描述：通常由单个或多个部件组成。一般采用钛合金等材料制成。该产品可用于在腰椎棘突间施加一定的撑开力，限制腰椎过度后伸。

棘突植入物预期用途：用于维持腰椎活动节段棘突间的稳定。

棘突植入物品名举例：棘突间植入物

棘突植入物管理类别：Ⅲ

棘突植入物相关指导原则：
1、3D打印人工椎体注册技术审查指导原则
2、增材制造金属植入物理化性能均一性研究指导原则

棘突植入物相关标准：
1、YY/T 1701-2020 用于增材制造的医用Ti-6Al-4V/Ti-6Al-4V ELI粉末
2、YY/T 0772.3-2009 外科植入物超高分子量聚乙烯第3部分：加速老化方法
3、YY/T 0772.4-2009 外科植入物超高分子量聚乙烯第4部分：氧化指数测试方法

收起百科↑ 最近更新：2023年04月03日

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：发射极 –基极截止电流Iebo 检测样品：光电耦合器标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件分立器件第5部分：光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：光电耦合器标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件分立器件第5部分：光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：集电极-基极击穿电压VCBO，发射极-基极击穿电压VEBO 检测样品：光电耦合器标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件分立器件第5部分：光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章1.2、 4.1、 5.1、 1.9.6、 1.10.2条

检测项：发射极-基极击穿电压检测样品：场效应晶体管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法3011

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：发射极-基极截止电流（IEBO）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：发射极-基极击穿电压（V(BR)EBO）检测样品：场效应管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：基极-发射极饱和电压(VBEsat）检测样品：场效应管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：集电极-基极击穿电压, 发射极-基极击穿电压检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

检测项：基极-发射极饱和电压检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

检测项：集电极-基极电流检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

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检测项：集基极反向击穿电压检测样品：晶体管标准：半导体测试方法测试标准 GJB128A-1997 方法3011

检测项：集基极反向击穿电压检测样品：晶体管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3001.1

检测项：射基极反向击穿电压检测样品：晶体管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3026.1

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重庆出入境检验检疫局检验检疫技术中心

检测项：溶液的澄清度与颜色检测样品：磺胺间甲氧嘧啶钠注射液标准：《中国兽药典》2010年版第一部

检测项：溶液的澄清度与颜色检测样品：磺胺间甲氧嘧啶钠注射液标准：《中国兽药典》2010年版第一部

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山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：基极-发射极电压检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：基极-发射极饱和电压检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：C、B间击穿电压检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

检测项：C、E间击穿电压检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

检测项：E、B间击穿电压检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

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四川出入境检验检疫局检验检疫技术中心

检测项：泄露电流检测样品：灯具标准：灯具第一部分：一般要求与实验 GB 7000.1-2007

检测项：泄漏电流检测样品：灯具标准：灯具第一部分：一般要求与实验 GB 7000.1-2007

检测项：工作温度下的泄漏电流和电气强度检测样品：灯具标准：灯具第一部分：一般要求与实验 GB 7000.1-2007

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内蒙古第一机械集团有限公司计量检测中心

检测项：轴线反向差值检测样品：机械零部件标准：产品几何量技术规范（GPS）形状位置公差检测规定 GB/T 1958-2004

检测项：轴线反向差值检测样品：机械零部件标准：产品几何量技术规范（GPS）形状位置公差检测规定 GB/T 1958-2004

检测项：闪点与燃点检测样品：石油产品标准：石油产品闪点与燃点测定法（开口杯法） GB/T 267-1988

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