器件失效测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：粒子碰撞噪声检测试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法2006

检测项：射频辐射能量发射检测样品：反射/传输器件、部件标准：自动网络分析仪检定规程GJB/J3608-1999微波元器件性能测试方法GJB2650-1996

检测项：静电放电检测样品：反射/传输器件、部件标准：自动网络分析仪检定规程GJB/J3608-1999微波元器件性能测试方法GJB2650-1996

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：正向电流检测样品：光耦标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

检测项：跨导检测样品：光耦标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

检测项：击穿电压检测样品：光耦标准：半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法GB/T15651.3-2003

机构所在地：重庆市更多相关信息>>

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：粒子碰撞噪声检测试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A－1997

检测项：粒子碰撞噪声检测试验检测样品：电子元器件标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360A－1996 方法 212 Y1

检测项：粒子碰撞噪声检测试验检测样品：电子元器件标准：电子及电气元件试验方法 GJB 360B－2009

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：反向电流检测样品：光耦合器标准：（1）半导体分立器件和集成电路第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：反向电流检测样品：光耦合器标准：（1）半导体分立器件和集成电路第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：正向电压检测样品：光耦合器标准：（1）半导体分立器件和集成电路第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：微电子器件标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微电子器件标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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北京京航计算通讯研究所飞航软件评测中心

检测项：编码规则检查检测样品：可编程逻辑器件软件测试标准：ECSS-Q-ST-60-02C《Space product assurance ASIC and FPGA development》 Q/QJB 179-2010可编程逻辑器件软件工程管理要求

检测项：可靠性检测样品：国防和军用软件测试标准：GJB/Z 141-2004 军用软件测试指南 GJB 5369-2005 航天型号软件C语言安全子集 QJ 3027-98 航天型号软件测试规范

检测项：易用性检测样品：国防和军用软件测试标准：GJB/Z 141-2004 军用软件测试指南 GJB 5369-2005 航天型号软件C语言安全子集 QJ 3027-98 航天型号软件测试规范

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：高低温循环试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051

检测项：高温试验检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1

检测项：高加速温度和湿度应力试验检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、1032

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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娄底市产商品质量监督检验所

检测项：气密性检测样品：电子陶瓷材料及制品标准：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法 GB/T 5594.1-1985

检测项：透液性检测样品：电子陶瓷材料及制品标准：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法透液性测试方法 GB/T 5594.7-1985

检测项：线膨胀系数检测样品：电子陶瓷材料及制品标准：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法 GB/T 5594.3-1985

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梅州线艺科技有限公司线艺测试服务中心

检测项：热冲击检测样品：电子元件标准：电子元件及器件的测试方法热冲击 MIL-STD-202G Method 107G-1984

检测项：端子强度 (引脚) 检测样品：电子元件标准：电子元件及器件的测试方法端子强度 MIL-STD-202G Method 211A-1969

检测项：溶剂抵抗检测样品：电子元件标准：电子元件及器件的测试方法溶剂抵抗 MIL-STD-202G Method 215K-2002

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爱斯佩克测试科技（上海）有限公司

检测项：高温试验检测样品：电子器件标准：温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007

检测项：交变湿热试验检测样品：电子器件标准：温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007

检测项：盐雾试验检测样品：电子器件标准：温度湿度偏置循环寿命测试 JESD22-A100C:2007

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