北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：可靠性试验 检测样品：电工电子产品 标准：GB/5080.7-86设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：静电放电抗扰度试验 检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备 标准：系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序 GB/T 7826-1987

检测项：光功率测量 检测样品：光辐射设备和传输系统 标准：光辐射设备和传输系统的保护措施IEC 60079-28:2006

检测项：辐射骚扰 检测样品：机动车电子零部件产品(电磁兼容) 标准：用于保护车载接收机的无线电骚扰特性的限值和测量方法GB 18655-2011; CISPR 25: 2008 电气和电子装置环境的一般规定 B21 7090:1993 通用标

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

广东省珠海市质量计量监督检测所

检测项：部分参数 检测样品：农业用聚乙烯吹塑棚膜 标准：GB 4455-2006农业用聚乙烯吹塑棚膜

检测项：全部参数 检测样品：复印机械环境保护要求 静电复印机环境保护要求 标准：GB 19462-2004复印机械环境保护要求 静电复印机环境保护要求

检测项：全部参数 检测样品：复印机械环境保护要求 静电复印机节能要求 标准：GB/T 18892-2002复印机械环境保护要求 静电复印机节能要求

机构所在地：广东省珠海市 更多相关信息>>

深圳市燃气设备检测有限公司

检测项：烤箱温控器失效时的安全性 检测样品：炊用燃气大锅灶 标准：家用燃气灶具.第1-1部分:安全性.总则 EN 30-1-1：2008

检测项：烤箱温控器失效时的安全性 检测样品：家用燃气灶具 标准：家用燃气灶具.第1-1部分:安全性.总则 EN 30-1-1：2008

检测项：熄火保护装置 检测样品：家用燃气灶具 标准：家用燃气灶具 GB16410-2007

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

青岛海尔空调电子有限公司检测中心

检测项：机械以及电气失效的防护 检测样品：电气设备 标准：认可和试验规范-电气设备的一般要求 AS/NZS 3100:2009 + A1:2010

检测项：一次电路过流保护和接地故障保护 检测样品：信息技术 设备 标准：信息技术设备安全-第1部分：一般要求 IEC 60950-1:2005 + A1:2009 AS/NZS 60950.1:2011 EN 60950-1:2006 + A11:2009 + A1:2010 + A12:2011

检测项：防触电保护 检测样品：灯具 标准：灯具-第1部分: 一般要求和试验 GB 7000.1-2007 IEC 60598-1:2003 + A1:2006 IEC 60598-1:2008 AS/NZS 60598.1:2003

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：损耗角正切 检测样品：电阻器 标准：（4）有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 733B-2011

检测项：电容量 检测样品：电容器 标准：（2）电子设备用固定电容器 第8部分 分规范：1类瓷介固定电容器 GB/T 5966-1996 （3）电子设备用固定电容器 第4部分：分规范 固体和非固体电解质铝电容器 GB/T 5993-2003 （4）有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范

检测项：高温试验 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：核电厂保护系统电气插件型式检验准则 EJ/T 609-1991

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市巴伦检测技术有限公司

检测项：重复失效测试 检测样品：电池运输 标准：原电池和二次电池电芯的运输安全要求 IEC 62281:2012 EN 62281:2013 GB 21966:2008

检测项：电池过充电保护 检测样品：锂电池 标准：锂电池 UL 1642:2005(Rev.5 2012)

检测项：高倍率充电保护功能 检测样品：锂电池 标准：CTIA对电池系统IEEE1625符合性的认证要求 Rev 1.9 (2013)

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：细检漏 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

检测项：细检漏 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

检测项：输入欠压保护 检测样品：通信用直流-直流模块电源 标准：通信用直流-直流模块电源YD/T 1376-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：阈值试验 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：外壳绝缘 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：两个或三个引出端之间电测试 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>