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机构所在地:浙江省杭州市
检测项:键合强度 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》
检测项:键合强度 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》
检测项:外部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB3233-1998《半导体集成电路失效分析程序和方法》
机构所在地:北京市
检测项:EFT电快速脉冲串抗扰测试 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备的抗扰特性限值和测量方法 EN55024:2010; GB/T 17618-2000
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:浙江省温州市