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器械夹产品描述:通常由一片折弯而成。头端带线槽或无槽。一般采用不锈钢材料制成。非无菌提供。 器械夹预期用途:用于显微手术时夹持牵引线。 器械夹品名举例:显微牵线夹 器械夹管理类别:Ⅰ 器械夹相关指导原则: 1、腹腔镜手术器械技术审查指导原则 器械夹相关标准: 1 . GB/T 16886.1-2011 《医疗器...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年02月16日
检测项:输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 GB/T 17574-1998
检测项:输出高电平电压和输出低电平电压 检测样品:FPGA现场可编程器件 标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 GB/T 17574-1998
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件JB/T 7411-2012
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测 A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试方法JB/T 9214-2010 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件JB/T 10061-1999
检测项:输出低电平(输出部分)VOL 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项:输出高电平(输出部分)VOH 检测样品:固定电阻器 标准:《电子设备用固定电阻器第一部分:总规范》GB/T 5729-2003
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:存储器 标准:《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:全部项目 检测样品:健身器材 标准:固定式健身器材 第1部分:通用安全要求和试验方法 GB17498.1-2008 ISO20957-1:2005
检测项:全部项目 检测样品:跑步机 标准:固定式健身器材 第6部分:跑步机附加的特殊安全要求和试验方法 GB17498.6-2008 ISO20957-6:2005
检测项: 检测样品: 标准:
检测项:自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)(AM) 检测样品:声音广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数GB/T 9374-88
检测项:自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)(AM) 检测样品:声音广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数GB/T 9374-2012
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:氨浓度 检测样品:笼器具 标准:实验动物 环境及设施 GB14925-2010附录I
检测项:饮水中微生物 检测样品:笼器具 标准:实验动物 环境及设施 GB14925-2010 8.3 实验动物 无菌动物生活环境及粪便标本的检测方法GB/T 14926.41-2001
检测项:温度 检测样品:设施 标准:实验动物 环境及设施 GB14925-2010 附录A
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:输出低电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输出功率 检测样品:免牌照国家信息基础设施设备 标准:免牌照国家信息基础设施设备 47 CFR Part 15 subpart E(10-1-13 Edition)
检测项:占用带宽 检测样品:免牌照国家信息基础设施设备 标准:免牌照国家信息基础设施设备 47 CFR Part 15 subpart E(10-1-13 Edition)
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:线性输出电平 检测样品:单面纸质 印制 标准:单面纸质印制的安全要求 SJ 3275-90
检测项:新型消防设施 检测样品:火灾自动报警 及消防联动系统 标准:智能建筑工程质量验收规范GB 50339-2003 第7章
检测项:防雷设施检验 检测样品:安全防范系统 标准:安全防范工程技术规范GB50348-2004 安全防范系统验收规则GA 308-2001
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>