中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：电工电子产品环境试验 第2部分试验方法试验Ea和导则：冲击；GB/T 2423.5-1995

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

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检测项：振动试验 检测样品：电工电子类产品 标准：电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法 试验Fc：振动（正弦）GB/T2423.10-2008

检测项：温度/振动综合试验 检测样品：电工电子类产品 标准：电工电子产品环境试验 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法 GB/T 2423.35-2005

检测项：温度/振动综合试验 检测样品：电工电子类产品 标准：电工电子产品环境试验 试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法 GB/T 2423.36-2005

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>