中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：微观形貌 检测样品：半导体材料 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京市理化分析测试中心

检测项：表面形貌 检测样品： 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：组织结构分析 检测样品： 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：镀层涂层厚度分析 检测样品： 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

连云港市质量技术综合检验检测中心

检测项：显微图像及能谱分析 检测样品：氧化铝 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则JY/T010-1996

检测项：元素含量分析 检测样品：无机非金属材料 标准：《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》 GB/T 17359-2012

检测项：放大检查 检测样品：珠宝玉石 标准：珠宝玉石 名称 GB/ T16552－2010

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司

检测项：比表面积 检测样品：塑料 标准：《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996

检测项：热分析 检测样品：塑料 标准：《分析型扫描电子显微镜方法通则》 JY/T 010-1996

检测项：微区形貌 分析 检测样品：材料微区 分析 标准：《透射电子显微镜方法通则》JY/T 011-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海华测先越材料技术有限公司

检测项：镀层厚度 检测样品：金属材料 标准：通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法 ASTM B748-90(2010)

检测项：密度 检测样品：钢铁及合金 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：镀层厚度 检测样品：金属材料 标准：微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中海油能源发展股份有限公司工程技术分公司中海油实验中心渤海实验中心

检测项：微观结构及组分 检测样品：岩石 标准：SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

上海华测品标检测技术有限公司

检测项：表面形貌 检测样品： 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：扫描电镜测镀层厚度 检测样品： 标准：金属履盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 JB/T 7503-94

检测项：微米级长度测量 检测样品： 标准：微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国石油集团杭州地质研究所实验中心

检测项：结构、形貌分析 检测样品：岩石 标准：岩石样品扫描电子显微镜分析方法 SY/T 5162-1997（2005）

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中冶建筑研究总院有限公司建筑钢材检测中心

检测项：硅（Si）、锰（Mn）、磷（P）、镍（Ni）、铬（Cr）、钼（Mo）、铜（Cu）、钒（V）、钴（Co）、钛（Ti）、铝（Al） 检测样品：金属材料化学成份 标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：能谱分析 检测样品：金属材料化学成份 标准：束分析 能谱法定量分析 GB/T 17359-2012

检测项：布氏硬度 检测样品：金属材料机械性能 标准：金属材料焊接试样破坏性试验—冲击试验-取样部位，切口位置和检查方法 BS EN 875：1995

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

公安部上海消防研究所火灾物证鉴定中心

检测项：元素分析 检测样品：铜、铝导体残留物 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第6部分：扫描电子显微镜/X射线能谱法GB/T19267.6-2008

检测项：微观形貌 检测样品：铜、铝导体残留物 标准：刑事技术微量物证的理化检验 第6部分：扫描电子显微镜/X射线能谱法GB/T19267.6-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>