滨州市产品质量监督检验所

检测项：弯曲折 断率 检测样品：食品 标准：挂面 LS/T3212-1992

检测项：氨基酸态氮 检测样品：食品 标准：酱油卫生标准的分析方法GB/T5009.39-2003

检测项：熟段条率 检测样品：食品 标准：挂面 LS/T3212-1992

机构所在地：山东省滨州市 更多相关信息>>

通标标准技术服务有限公司青岛分公司

检测项：部分参数 检测样品：手工面 标准：手工面 LS/T 3214-1992

检测项：部分参数 检测样品：挂面 标准：挂面 LS/T 3212-1992

检测项：部分参数 检测样品：花色挂面 标准：花色挂面 LS/T 3213-1992

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：漏--源断态电阻RDSon 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：断态重复峰值电流IDRM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：断态重复峰值电流IDRM 检测样品：半导体分立器件外壳 标准：1、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

检测项：通态峰值电压VTM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：断态电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：断态电流(ID) 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：漏－源通态电压（饱和电压）VDS(ON) 检测样品：场效应晶 体管 标准：GB/T 4586－94《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》

检测项：通态电压（VT） 检测样品：晶闸管 标准：GB/T15291－94《半导体器件 第6部分 晶闸管》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市国电科技通信有限公司电力线通信应用技术实验室

检测项：冲击电压试验 检测样品：以太网交换设备 标准：电气绝缘材料和系统 瞬时上升和重复冲击电压条件下的局部放电(PD)电气测量 GB/T23642-2009

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：以太网交换设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.11-2008

检测项：冲击电压 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

飞利浦电子技术（上海）有限公司飞利浦照明电器检测中心

检测项：部分参数 检测样品：高强度放电灯测量 标准：高强度放电灯—特性的测量方法 ANSI C78.389-2004

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国石油天然气股份有限公司大港油田分公司石油工程研究院中心实验室

检测项：160℃热滚后表观粘度上升率 检测样品：钻井液用处理剂 标准：钻井液用处理剂通用试验方法 SY/T 5559-1992

检测项：基质渗透率损害率 检测样品：注水用粘土稳定剂 标准：注水用粘土稳定剂性能评价方法 SY/T 5971-1994

检测项：防膨率 检测样品：注水用粘土稳定剂 标准：注水用粘土稳定剂性能评价方法 SY/T 5971-1994

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：发射电压、上升时间、回响及持续时间 检测样品：超声探伤仪 标准：无损检测 超声检测设备的性能与验证 第1部分：仪器 EN12668-1:2000

检测项：发射脉冲上升时间 检测样品：超声探伤仪 标准：A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件 JB/T 10061-1999

检测项：模拟闸门输出的上升、下降和保持时间 检测样品：超声探伤仪 标准：无损检测 超声检测设备的性能与验证 第1部分：仪器 EN12668-1:2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>