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光学相干断层扫描仪产品描述:通常由光学相干系统、数据获取处理和/或分析系统组成。利用光学相干成像原理,获取组织断层面的信息。 光学相干断层扫描仪预期用途: 用于获取组织断层面的信息。 光学相干断层扫描仪品名举例:眼科光学相干断层扫描仪 光学相干断层扫描仪管理类别:Ⅱ 光学相干断层扫描仪相关指导原则: 1、眼科光学相干断层扫描仪注册...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:密封性检查 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:外部目检 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:栅源极截止(漏泄)电流IGSS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:放大倍数(hFEL) 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项:集电极-基极击穿电压(V(BR)CBO) 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项:发射极-基极击穿电压(V(BR)EBO) 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
机构所在地:陕西省西安市
检测项:栅-源阈值电压 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分: 场效应晶体管 GB/T4586-1994
检测项:脉动 检测样品:屏蔽暗室 标准:飞机供电特性及对用电设备的要求 GJB181-1986
机构所在地:重庆市
检测项:栅-源击穿电压 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
检测项:漏-源通态电阻 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
检测项:零栅压漏极电流 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
机构所在地:湖北省宜昌市