电压调整率SV 检测实验

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪查看详情>>

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration)

定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。

收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪

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收缩率

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377－1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：低电平输出电流IOL 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377－1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：正向直流电压（VF）检测样品：信号（包括开关）和调整二级管标准：GB/T 6571－1995《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二级管》

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输入电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：电压调整率（SV）检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：电压调整率（SV）检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

检测项：电流调整率（SI）检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

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上海精密计量测试研究所

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：电压调整率SV 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：DC/DC变换器电压调整率Sv 检测样品：晶体谐振器标准：SJ2052-1982 《30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法》

检测项：电压调整率Reg/ln 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：电流调整率Reg/ld 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：电压调整率（基准部分）SV 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：电压调整率SV 检测样品：DC-DC电源变换器标准：《遥测系统及分系统测试方法 DC-DC电源变换器性能参数和测试方法》GJB 383.10-1988

检测项：频率调整检测样品：电压调整器（三端稳压电源）标准：《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》GB/T 4377-1996

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：DC/DC转换器标准：SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：电压调整率Reg/ln 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：电流调整率Reg/ld 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：集成电路筛选标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：电压调整率SV 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：集电极-发射极饱和电压VCEsat 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

检测项：基极-发射极饱和电压VBesat 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

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