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收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。 收缩率 测试仪器：薄膜热收缩率试验仪 查看详情>>
收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日
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检测项：电流调整率 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
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机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项：电流调整率 检测样品：电子元器件 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法301
检测项：电压调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输出电流调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：热调整率 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：电流调整率 检测样品：混合集成电路 标准：混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：电流调整率SI 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》
检测项：电流调整率SI 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》
检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率（SI） 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：电压调整率 （SV） 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：静态电源电流(IQ) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：电流调整率SI 检测样品：集成电路筛选 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序
检测项：输入电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分： 整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项：功能 检测样品：采样/保持放大器 标准：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；
机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率Reg/ld 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》
检测项：DC/DC变换器电流调整率Si 检测样品：晶体谐振器 标准：SJ2052-1982 《30兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法》
检测项：电压调整率Reg/ln 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》
