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婴儿辐射保暖台产品描述: 通常由带婴儿床、主机、加热温控仪、床垫加热器、辐射热源在内的电功率装置组成。 婴儿辐射保暖台预期用途:用电磁光谱红外范围的直接辐射能量来保持婴儿患者的热平衡。 婴儿辐射保暖台品名举例:婴儿辐射保暖台 婴儿辐射保暖台管理类别:Ⅲ 婴儿辐射保暖台相关检测项目: 1 . 对不需要的或过量的...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月20日
检测项:输出互调 检测样品:TD-SCDMA移动电话机 标准:《信息技术设备的无线电骚扰限值和测试方法》 GB9254-2008
检测项:机箱端口杂散辐射 检测样品:TD-SCDMA移动电话机 标准:《信息技术设备的无线电骚扰限值和测试方法》 GB9254-2008
检测项:RF输出功率要求 检测样品:CDMA数字蜂窝基地台 标准:《800MHz CDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法:基站子系统》 YDC 022-2008 《关于800MHz频段CDMA系统基站和直放机杂散发射限值及与900MHz频段GSM系统邻频共用设台要求的通知》 信部无[2002]65号
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:光输出比 检测样品:灯具 标准:《灯具分布光度测量的一般要求》 GB/T 9468-2008
检测项:结构 检测样品:嵌入式灯具 标准:《灯具一般安全要求和试验》 GB 7000.1-2007 《嵌入式灯具的安全要求》 GB 7000.202-2008
检测项:结构 检测样品:自整流LED灯 标准:《普通照明用自整流LED灯安全要求》 GB 24906-2010
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:光输出 检测样品:方向性LED灯 标准:能源之星程序对灯具的合格评定要求 版本1.2
检测项:光输出 检测样品:非方向性LED灯 标准:ANSI C82.77-2002 谐波发射限值-照明设备相关电源质量要求
检测项:光输出 检测样品:光学测量 标准:ANSI C82.77-2002 谐波发射限值-照明设备相关电源质量要求
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:发射机输出功率 检测样品:无线电设备 标准:射频通讯设备的射频暴露符合性 RSS 102 issue 4: 2010-03
检测项:输出功率 检测样品:无线电设备 标准:工作在824-849MHz以及869-894MHz的新技术蜂窝电话 RSS 132 issue 2: 2005-09 RSS 132 issue 3: 2013-01
检测项:输出功率 检测样品:无线电设备 标准:2GHz的个人通讯设备 RSS 133 issue 5: 2009-02 RSS 133 issue 6: 2013-01
检测项:振荡器输出波形(脉冲) 检测样品:振荡器 标准:有质量评定的石英晶体振荡 第1部分:总规范 IEC 60679-1-2007
检测项:输出过压保护 检测样品:通信用直流-直流模块电源 标准:电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出电压的纹波试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:输出电压的短时稳定性试验 检测样品:高压谐振试验装置 标准:《电力设备专用测试仪器通用技术条件第6部分:高压谐振试验装置》 DL/T849.6-2004
检测项:输出短路电流 检测样品:电子式绝缘电阻表 标准:《电阻测量装置通用技术条件第1部分:电子式绝缘电阻表》 DL/T845.1-2004
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>