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检测项：正向电压 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008
检测项：正向电流 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008
检测项：输入电流谐波 检测样品：照明光源 标准：照明光源颜色的测量方法 GB/T 7922-2008
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体二极管测试方法 SJ/T 11394-2009
机构所在地：山东省潍坊市 更多相关信息>>
检测项：正向电压 检测样品：电阻器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条
检测项：正向电压 检测样品：耦合器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条
检测项：正向电压 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章2.1条 第Ⅳ章2.2条 第Ⅳ章3条 第Ⅳ章4.2条
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管GB/T6571-1995
检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
检测项：输入特性 检测样品：车载稳压电源 标准：GJB3836—99车载稳压电源通用规范
机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项：正向电压 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》
机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995
检测项：正向峰值电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997
检测项：共发射极正向电流传输比静态值 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项：门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：VF-正向电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2(第二版 2000-03)
检测项：VFM: 正向峰值電壓 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项：谐波电流发射 检测样品：电子电气设备 标准：GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2:2006+A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A)
机构所在地： 更多相关信息>>
检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入偏置电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：正向电压 检测样品：半导体激光器 标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法
检测项：正向电流 检测样品：半导体激光器 标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法
检测项：光功率-正向电流特性 检测样品：半导体激光器 标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
