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检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：输入箝位电压 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全 通用要求 IEC 60335-1:2001 +A1:2004+A2:2006 IEC 60335-1:2010 +A1:2013 EN 60335-1:2002 +A11:2004+A1:2004+A12:2006+A2:
机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用电冰箱(安全测试） 标准：家用和类似用途电器的安全 第一部分：通用要求 GB4706.1-2005 家用和类似用途电器的安全制冷器具、冰淇淋机和制冰机的特殊要求GB4706.13-2008
机构所在地：浙江省宁波慈溪市 更多相关信息>>
