中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出漏电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：输出高电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

南德认证检测（中国）有限公司深圳分公司

检测项：CRD5.11输出电流限制（外部短路考察） 检测样品：手机用锂电池 标准：蜂窝电话用可充电电池的IEEE标准 IEEE1725:2011 CTIA关于电池系统符合IEEE1725的认证要求 Rev.2.6 08, 2013

检测项：负载输出电压和输出电流 检测样品：电力变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全第1部分：通用要求和试验 IEC61558-1:1997 +A1:1998 EN 61558-1: 1997 +A1:1998 +A11:2003 IEC 61558-1:2005 +A1:2009 EN 6155

检测项：CRD 5.7 限制输出电流 检测样品：便携式计算机用蓄电池 标准：便携式计算机用蓄电池标准 IEEE1625:2008 及电池系统符合IEEE1625的证书要求 CRD Revision 1.9（2013-08）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

河北省产品质量监督检验院

检测项：部分项目 检测样品：用于交流和直流的断路器 标准：用于交流和直流的断路器GB 10963.2-2008

检测项：部分项目 检测样品：带电作业用便携式接地和接地短路装置 标准：带电作业用便携式接地和接地短路装置 DL/T 879-2004

检测项：部分项目 检测样品：用于交流的断路器 标准：电气附件 家用及类似场所用过电流保护断路器 第1部分：用于交流的断路器 GB 10963.1-2005

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

广东明家科技股份有限公司实验室

检测项：部分项目 检测样品：电涌保护器 标准：UL1449:2006 电涌保护器

检测项：部分项目 检测样品：电涌保护器 标准：GB18802.1-2002/ IEC61643-1:2005低压配电系统的电涌保护器第1部分：性能要求和试验方法； GB/T 18802.21-2004/IEC61643-21:2000电信和信号网络的电涌保护器(SPD)---性能要求和试验方法

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的插头插座 标准：GB 2099.1-2008家用和类似用途插头插座 第一部分：通用要求 IEC 60884-1:2006家用和类似用途插头插座

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

南京市产品质量监督检验院

检测项：部分参数 检测样品：低压成套开关设备和控制设备 标准：《低压成套开关设备和控制设备 第1部分:型式试验和部分型式试验 成套设备》 GB 7251.1-2005

检测项：部分参数 检测样品：公用电网动力配电成套设备 标准：《低压成套开关设备和控制设备 第5部分:对公用电网动力配电成套设备的特殊要求》 GB7251.5-2008

检测项：部分参数 检测样品：非专业人员可进入场地的低压成套开关设备和控制设备-配电板 标准：《低压成套开关设备和控制设备 第3部分:对非专业人员可进入场地的低压成套开关设备和控制设备-配电板的特殊要求》 GB7251.3-2006

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

西安微电机研究所微电机实验室

检测项：短路输出阻抗 检测样品：感应 移相器* 标准：感应移相器通用技术条件 JB/T6225－1992

检测项：短路输出阻抗 检测样品：交流测速 发电机* 标准：CK系列异步测速 发电机 JB/T8160－1995

检测项：输出电压 检测样品：感应 移相器* 标准：感应移相器通用技术条件 JB/T6225－1992

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：输出短路保护 检测样品： 标准：

检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

北京雷电防护装置测试中心

检测项：二端口和输入/输出端子分开的一端口的SPD试验 检测样品：低压电涌保护器（SPD） 标准：低压浪涌保护装置 第11部分:接到低压配电系统的浪涌保护装置 要求和试验方法 EN 61643-11:2002+A11:2007低压浪涌保护装置 第11部分:接到低压配电系统的浪涌保护装置 要求和试验方法IEC 61643-11：2011

检测项：负载侧短路耐受能力试验 检测样品： 标准：

检测项：SPD的脱离器和SPD过载时的安全性能试验 检测样品：低压电涌保护器（SPD） 标准：低压浪涌保护装置 第11部分:接到低压配电系统的浪涌保护装置 要求和试验方法 EN 61643-11:2002+A11:2007低压浪涌保护装置 第11部分:接到低压配电系统的浪涌保护装置 要求和试验方法IEC 61643-11：2011

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>