中海壳牌石油化工有限公司中心实验室

检测项：熔体流动速率 检测样品：聚乙烯、聚丙烯树脂 标准：塑料－塑性塑料质量流动速率（MFR）与体积流动速率（MVR）测试方法 ISO 1133-1:2011

检测项：熔体流动速率 检测样品：聚乙烯、聚丙烯树脂 标准：塑料－热塑性塑料熔体质量流动速率（MFR）与熔体体积流动速率（MVR）的测定 第一部分：标准方法 ISO 1133-1:2011

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

浙江俊尔新材料股份有限公司检测中心

检测项：熔体流动速率 检测样品：塑料 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 GB/T 3682-2000

检测项：熔体流动速率 检测样品：塑料 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 ISO 1133：2005

检测项：熔体流动速率 检测样品：塑料 标准：通过挤出式塑性仪测量热塑性塑料熔体流动速率试验方法 ASTM D1238-2010

机构所在地：浙江省温州市 更多相关信息>>

深圳市沃尔核材股份有限公司检测中心

检测项：熔体流动速率 检测样品：橡塑材料、电绝缘材料 标准：GB/T 3682-2000 热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定

检测项：垂直燃烧 检测样品：橡塑材料、电绝缘材料 标准：GB/T 3682-2000 热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定

检测项：纵向变化率 检测样品：橡塑材料、电绝缘材料 标准：UL 224-2006 挤出绝缘管

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

南海出入境检验检疫局综合技术服务中心检测中心

检测项：熔体流动速率 检测样品：塑料、橡胶原料及制品 标准：GB/T3682-2000 热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定

机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>

山东道恩高分子材料股份有限公司检测中心

检测项：熔体流动速率 检测样品：橡胶及制品 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 GB/T 3682-2000

检测项：拉伸性能 检测样品：橡胶及制品 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 ISO 1133-1:2011

检测项：拉伸性能 检测样品：橡胶及制品 标准：挤出塑性仪测热塑性塑料熔体流动速率标准试验方法 ASTM D1238-10

机构所在地：山东省龙口市 更多相关信息>>

四川仁智油田技术服务股份有限公司实验室

检测项：熔体流动速率 检测样品：改性塑料 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 GB/T 3682–2000

检测项：熔体流动速率 检测样品：改性塑料 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 GB/T 3682–2000

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

合肥杰事杰新材料股份有限公司检测中心

检测项：熔体质量流动速率和熔体体积流动速率 检测样品：塑料 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率（MFR）和熔体体积流动速率(MVR)的测定 第1部分：标准方法 ISO 1133-1:2011

检测项：熔体质量流动速率和熔体体积流动速率 检测样品：塑料 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率（MFR）和熔体体积流动速率(MVR)的测定 第2部分：对时间-温度历史和/或湿度敏感材料的测试方法 ISO 1133-2:2011

检测项：拉伸性能 检测样品：塑料 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率（MFR）和熔体体积流动速率(MVR)的测定 第1部分：标准方法 DIN EN ISO 1133-1:2012

机构所在地：安徽省合肥市 更多相关信息>>

汉达精密电子（昆山）有限公司检测实验室

检测项：熔体流动速率 检测样品：电工电子产品 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 GB/T 3682-2000

检测项：熔体流动速率 检测样品：塑料及塑料制品 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 GB/T 3682-2000

机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>

青岛科标化工分析检测有限公司

检测项：熔体流动速率 检测样品：塑料与塑料制品 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 GB/T 3682-2000

检测项：氧指数 检测样品：塑料与塑料制品 标准：热塑性塑料熔体质量流动速率和熔体体积流动速率的测定 ISO 1133-1:2011

检测项：熔体流动速率 检测样品：塑料与塑料制品 标准：塑料 简支梁冲击性能的测定 第1部分:非仪器化冲击试验 ISO 179-1:2010

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：频率 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

检测项：最大时钟频率 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>