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无菌负压吸引装置产品描述: 通常由器身、弹簧、调节器组、连接接头、连接管、止流夹、护帽、引流袋、负压泵或手动负压源(负压球)组成。无菌提供。不包括插入体内的引流导管。 无菌负压吸引装置预期用途: 用于临床负压引流时,与插入体内的引流导管相连接,起到充当负压传导介质和/或引导、收集引流液的作用。 无菌负压吸引装置品名举例: 无菌负压吸引装置、无菌高负压引流瓶、无菌...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月12日
检测项:浪涌抗扰度 检测样品:电子 电器 标准:电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2:2009
检测项:浪涌抗扰度 检测样品:电子 电器 标准:电磁兼容性 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰试验 GB/T 17626.5-2008 IEC 61000-4-5:2005
检测项:谐波电流 检测样品:电子 电器 标准:电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2:2009
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:高电压试验 检测样品:带剩余电流保护装置的插座(BS) 标准:带剩余电流保护装置的插座 BS 7288:1990(2003年修订)
检测项:高电弧耐燃试验 检测样品:电流分接器和转换器 标准:电流分接器和转换器 UL498A-2008
检测项:气味、口味 检测样品:高筋小麦粉 标准:高筋小麦粉 GB/T 8607-1988
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:通态浪涌电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:反向电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:断态电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:大电流注入 检测样品:变频器 标准:浪涌(冲击) 抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008
检测项:浪涌(冲击)抗扰度试验 检测样品:变频器 标准:电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T 17626.4-2008
检测项:浪涌(冲击)抗扰度试验 检测样品:变频器 标准:调速电气传动系统第3部分:产品的电磁兼容性标准及其特定的试验方法5.3 GB 12668.3-2003
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:电子式互感器 标准:互感器 第8部分:电子式电流互感器 GB/T 20840.8-2007
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:电工电子产品(电磁兼容) 标准:电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:继电保护和安全自动装置(通用要求) 标准:电气继电器 第22-5部分:量度继电器和保护装置的电气骚扰试验-浪涌抗扰度试验 GB/T 14598.18-2007
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:浪涌电流时的性能 检测样品:家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCBO) 标准:GB16917.1-2003 IEC61009-1:1996,MOD 家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCBO) 第1部分:一般规则 GB16917.21-2008 IEC61009-2-1:1991,IDT 家用和类似用途的带过电流保护
检测项:浪涌电流时的性能 检测样品:家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB) 标准:GB16916.1-2003 IEC61008-1:1996,MOD 家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB) 第1部分:一般规则 GB16916.21-2008 IEC 61008-2-1-1990,IDT 家用和类似用途的不带过电
检测项:在过电流条件下剩余电流保护电器的性能 检测样品:剩余电流动作保护器 标准:GB/Z 6829-2008 剩余电流动作保护电器的一般要求
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:电子和电气产品、信息设备及军用设备 标准:电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验GB/T17626.5-2008 / IEC-61000-4-5:2005
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:额定电流不大于16A的电子、电气设备 标准:《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》 GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:200
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:电子电气设备 标准:《电磁兼容 试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验》IEC 61000-4-5:2005,EN 61000-4-5:2006,GB/T 17626.5-2008
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:电子电气设备 标准:《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》 GB/T 17626.5-2008 IEC 61000-4-5:2005 EN 61000-4-5:2006
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:电子和电气产品、信息设备及工、科、医类设备 标准:电磁兼容试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:电子和电气产品、信息设备及工、科、医类设备 标准:信息技术设备抗扰度限值和测量方法 CISPR 24:2001
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:浪涌(雷击)抗扰度 检测样品:电子、电器产品 标准:电磁兼容试验和测量技术浪涌(雷击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008 IEC 61000-4-5:2005 EN 61000-4-5:2006
检测项:浪涌(雷击)抗扰度 检测样品:电子、电器产品 标准:电磁兼容试验和测量技术浪涌(雷击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008 EN 61000-4-5:2006 IEC 61000-4-5ed2.0:2005
检测项:浪涌(雷击)抗扰度 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 EN 55024:2010 CISPR 24 ed2